CME-EL 電致發光外量子效率測量系統
CME-EL電致發光外量子效率測量系統（EQE)是一種緊湊，操作便捷，可在手套箱內完成搭建。發光材料的特征體現在它們的熒光量子產率。對于諸如有機和無機LED的發光器件，相應的物理特征表現值是外量子效率，通常通過電致發光（ELelectroluminescence）方法測量。
主要特點:
l可以測量L(cd/m2)、LmEff(cd/A)、EQE和CIE1931；
l光譜儀系統采用制冷型CCD信噪比高、雜散光低；
l體積小巧：便于靈活使用及運輸；
l堅固、緊湊的設計，可以***限度減少實驗室空間；
l專業軟件，操作簡單；軟件顯示：J-V曲線、L-J曲線、LmEff-J曲線、EQE-J曲線、CIE1931 XYGraph曲線。
技術參數
光譜儀 | 型號 | CME-QE2000（可選） |
光譜范圍（nm） | 300-1100nm | |
光譜儀分光元件 | 全息成像光柵 | |
感光元件 | 電子冷卻型CCD影像感測器 | |
信噪比 | 1000:01:00 | |
分辨率 | 2.5nm(FWHM) | |
積分球 | 尺寸 | 100mm |
涂層材質 | Sperctralon | |
源表 | 型號 | Keithley2400 |
光纖 | 芯徑 | 800um |
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